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专注光谱分析
光谱分析设备产品生产家18962188051
简要描述：ESI英飞思EDX9000B plus光谱仪主要应用于采矿作业（勘探、开采、品位控制），工业矿物，生产水泥和建筑材料的原材料，耐火材料，陶瓷和玻璃，地球化学学术研究，考古等。其优异的线性动态范围，可实现在水泥、矿物、采矿、金属、玻璃和陶瓷行业进行超高精度的过程控制和质量控制。具有全新真空光路系统和超高分辨率技术的新一代Fast SDD检测器，对轻、中、重元素和常见氧化物都可达到最佳分析效果。
产品厂地：苏州市厂商性质：生产厂家更新时间：2024-04-08访 问 量：895详细介绍
| 品牌 | 英飞思 | 行业专用类型 | 食品 |
|---|---|---|---|
| 价格区间 | 面议 | 仪器种类 | 台式/落地式 |
| 应用领域 | 食品,地矿,冶金,综合 |
EDX-9000B PLUS XRF Spectrometer
能量色散X荧光光谱仪
矿产矿石专用分析仪
Simply the Best
>*制成Peltier电制冷 FAST SDD硅漂移检测器
>真空光路配备薄膜滤光片技术，提高轻元素检出限
>可同时分析40种元素
>可分析固体，液体，粉末和泥浆
>进口X光管管芯提供可靠的样品激发性能
>无损检测，快速分析（1-2分钟出结果）
>无需化学试剂，无耗材，更环保，更高效
EDX9000B Plus能量色散X荧光光谱仪-矿产/矿石分析专家
ESI英飞思EDX9000B plus光谱仪主要应用于采矿作业（勘探、开采、品位控制），工业矿物，
生产水泥和建筑材料的原材料，耐火材料，陶瓷和玻璃，地球化学学术研究，考古等。EDX9000B plus优异的线性动态范围，可实现在水泥、矿物、采矿、金属、玻璃和陶瓷行业进行超高精度的过程控制和质量控制。
具有全新真空光路系统和超高分辨率技术的新一代Fast SDD检测器，对轻、中、重元素和常见氧化物（Na2O、MgO、Al2O₃、SiO₂、P2O5、SO₃、K2O、CaO、TiO₂、Cr2O₃、MnO、Fe2O₃、ZnO和SrO等）都可达到最佳分析效果。
EDX9000B plus优秀的分析性能，使其可以轻松完成对以下矿种的测试：
铁矿(磁铁矿、赤铁矿、钛铁矿、菱铁矿等)
铜矿(黄铜矿、赤铜矿、孔雀石等)
铬矿(铬铁尖晶石、铬铁矿、铬铋矿等)
钼矿(辉钼矿、铜钼矿、钨钼矿等)
钨矿(白钨矿、黑钨矿、锡钨矿等)
钽矿(钽铁矿、铌铁矿、烧绿石等)
铅锌矿(方铅矿、闪锌矿、白铅矿等)
镍矿(红土镍矿、硫化铜镍矿等)
铝土矿
其它矿类
产品特点
1.小型化、高性能、高速度、易操作，Na11-U92高灵敏度、高精度分析
2.可同时分析40种元素
3.采用多准直器多滤光片和扣背景技术
4. Peltier电制冷 FAST SDD硅漂移检测器提供出色的短期重复性和长期再现性以及出色的元素峰分辨率
5.超高记数数字多道电路设计，双真空抽速机构，真空度自动稳定系统
6.标配基本参数法软件，多任务，多窗口操作
7.薄膜滤光片技术，有效提高轻元素检出限
矿产元素检测专家EDX9000B Plus
>仪器参数
仪器外观尺寸: 565mm*385mm*415mm |
超大样品腔：465mm*330mm*110mm |
半封闭样品腔（抽真空时）：Φ150mm×高75mm |
仪器重量: 48Kg |
元素分析范围：Na11-U92钠到铀 |
可分析含量范围：1ppm- 99.99% |
探测器：AmpTek 超高分辨率电制冷Fast SDD硅漂移检测器 |
探测器分辨率：122 eV FWHM at 5.9 keV |
处理器类型：全数字化DP-5分析器 |
谱总通道数：4096道 |
X光管：高功率50瓦光管（进口管芯），冷却方式：硅脂冷却 |
光管窗口材料：铍窗 |
准直器：多达8种选择，最小0.2mm |
滤光片：7种滤光片的自由选择和切换 |
高压发生装置：原装美国高压，电压输出：0-50kV；输出电流：0-1mA |
高压参数：最小5kv可控调节，自带电压过载保护，输出精度：0.01% |
样品观察系统：500万像素高清CCD摄像头 |
电压：220ACV 50/60HZ |
环境温度：-10 °C 到35 °C |
仪器配置
>标准配置 | >可选配置 |
纯Ag初始化标样 | 磨样机 |
真空泵 | 压片机 |
矿石专用样品杯 | 烘干箱 |
USB数据线 | ESI-900型XRF专用全自动熔样机 |
电源线 | 电子秤 |
测试薄膜 | 矿石标准物质 |
仪器出厂和标定报告 | 交流净化稳压电源 |
保修卡 | 150目筛子 |
全新设计的XTEST分析软件
软件内核包括基本参数法（FP），经验系数法（EC）,可轻松分析各类样品。
*光谱处理参数包括用于定义背景连续性，堆积峰和峰总和，平滑度以及测量到的峰背景光谱的数量
*对吸收以及厚膜和薄膜二次荧光的校正，即基体效应，增强和吸收的校正。
*谱显示：峰定性，KLM标记，谱重叠比较，可同时显示多个光谱图
*可以通过积分峰的净面积或使用测得的参考光峰响应，将光峰强度建模为高斯函数。
*可以使用纯基本参数方法，具有分散比的基本参数（对于包含大量低Z材料的样品）或通过简单的最小二乘拟合进行定量分析。
*基本参数分析可以基于单个多元素标准，多个标准或没有标准的样品
*提供多种数据访问接口，可兼容LIMS实验室管理系统
铝土矿样品10次连续测试稳定性报告
测量次数 | MgO | Al2O3 | SiO2 | P2O5 | K2O | CaO | TiO2 | MnO | Fe2O3 | Pb |
铝土矿-1 | 0.1054 | 75.2553 | 9.9633 | 0.189 | 0.1709 | 0.2083 | 3.5535 | 0.0401 | 10.311 | 0.006 |
铝土矿-2 | 0.1049 | 75.2001 | 10.0606 | 0.1927 | 0.1662 | 0.2035 | 3.5657 | 0.0421 | 10.3259 | 0.0058 |
铝土矿-3 | 0.1031 | 75.2126 | 10.0301 | 0.188 | 0.1617 | 0.2049 | 3.536 | 0.0404 | 10.257 | 0.0062 |
铝土矿-4 | 0.0998 | 75.2123 | 10.0481 | 0.1937 | 0.1651 | 0.2071 | 3.5573 | 0.0444 | 10.3338 | 0.0061 |
铝土矿-5 | 0.1075 | 75.2657 | 10.0629 | 0.1949 | 0.1654 | 0.2193 | 3.5481 | 0.0415 | 10.2885 | 0.0062 |
铝土矿-6 | 0.1058 | 75.1657 | 10.0627 | 0.1988 | 0.1724 | 0.2206 | 3.5542 | 0.0404 | 10.321 | 0.0062 |
铝土矿-7 | 0.1007 | 75.1966 | 10.0811 | 0.1928 | 0.1725 | 0.2199 | 3.5694 | 0.0438 | 10.334 | 0.0062 |
铝土矿-8 | 0.1008 | 75.2769 | 10.0104 | 0.1947 | 0.1663 | 0.2185 | 3.5289 | 0.0406 | 10.2942 | 0.0059 |
铝土矿-9 | 0.1057 | 75.2524 | 10.0968 | 0.1929 | 0.161 | 0.214 | 3.5483 | 0.0412 | 10.3395 | 0.006 |
铝土矿-10 | 0.1049 | 75.2344 | 10.0828 | 0.1918 | 0.1635 | 0.2212 | 3.5648 | 0.0423 | 10.3411 | 0.0062 |
平均值 | 0.104 | 75.227 | 10.050 | 0.193 | 0.167 | 0.214 | 3.553 | 0.042 | 10.315 | 0.006 |
标准偏差 | 0.0026 | 0.0355 | 0.0397 | 0.0030 | 0.0042 | 0.0071 | 0.0129 | 0.0015 | 0.0272 | 0.0001 |
相对标 | 2.51% | 0.05% | 0.39% | 1.58% | 2.50% | 3.31% | 0.36% | 3.55% | 0.26% | 2.43% |
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