EDX-8000B光谱膜厚仪

EDX-8000B光谱膜厚仪介绍：

1.微光斑X 射线聚焦光学器件：

通过将高亮度一次X射线照射到0.02mm的区域，实现高精度测量。

2.硅漂移探测器 (SDD) 作为检测系统：

高计数率硅漂移检测器可实现高精度测量。

3.高分辨率样品观测系统：

精确的点位测量功能有助于提高测量精度。

4.全系列标配薄膜FP无标样分析法软件，可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量。

配合用户友好的软件界面，可以轻松地进行日常测量。

EDX-8000B型XRF镀层测厚仪背景介绍：

材料的镀层厚度是一个重要的生产工艺参数，其选用的材质和镀层厚度直接影响了零件或产品的耐腐蚀性、装饰效果、导电性、产品的可靠性和使用寿命，因此，镀层厚度的控制在产品质量、过程控制、成本控制中都发挥着重要作用。英飞思开发的EDX8000B镀层测厚仪是专门针对于镀层材料成分分析和镀层厚度测定。EDX-8000B光谱膜厚仪其主要优点是准确，快速，无损，操作简单，测量速度快。可同时分析多达五层材料厚度，并能对镀层的材料成分进行快速鉴定。

XRF镀层测厚仪工作原理：

镀层测厚仪EDX8000B是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线能量很低，所以不会对样品造成损坏。同时，测量的也可以在10秒-30秒内完成。

膜厚仪EDX8000B产品特点：

1.测试快速，无需样品制备

2.可通过内置高清CCD摄像机来观察及选择定位微小面积镀层厚度的测量，避免直接接触，污染或破坏被测物

3.备有多种以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品

4.可覆盖元素周期表Mg镁到U铀

5.SDD检测器，具有高计数范围和出色的能量分辨率

6.可切换准直器和滤光片

膜厚仪EDX8000B应用场景：

1.EDX8000B镀层测厚仪可以用于PCB镀层厚度测量，PCB镀层分析，金属电镀镀层分析

2.测量的对象包括镀层、敷层、贴层、涂层、化学生成膜等

3.可测量离子镀、电镀、蒸镀、等各种金属镀层的厚度

4.镀铬，例如带有装饰性镀铬饰面的塑料制品

5.钢上锌等防腐涂层

6.电路板和柔性PCB上的涂层

7.插头和电触点的接触面

8.电镀液分析

9.贵金属镀层，如金基上的铑材料分析

10.电镀液分析

11.分析电子和半导体行业的功能涂层

12.分析硬质材料涂层，例如 CrN、TiN或TiCN

13.可拓展增加RoHS有害元素分析功能

技术参数：

膜厚仪EDX8000B可分析的常见镀层材料：可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。

单涂镀层应用：如Cr/Fe, Ni/Fe, Ag/Cu,Zn/Fe等

多涂镀层应用：如Au/Ni/Cu, Ag/Pb/Zn, Ni/Cu/Fe等

合金镀层应用：如ZnNi/Fe, ZnAl/Ni/Cu等

合金成分应用：如NiP/Fe, 同时分析镍磷含量和镀层厚度