欢迎来到苏州英飞思科学仪器有限公司网站!
咨询热线

18962188051

当前位置:首页  >  技术文章  >  X射线荧光光谱仪测定陶瓷,色料和釉等物料中主量及次量元素

X射线荧光光谱仪测定陶瓷,色料和釉等物料中主量及次量元素

更新时间:2022-10-12      点击次数:552

X射线荧光光谱仪EDX9000B测定陶瓷,色料和釉等物料中主量及次量元素

采用熔融片制样用X射线荧光光谱仪EDX9000B对陶瓷,色料和釉物料中Na,Mg,A1,Si,P,S,K,Ca,Ti,Mn,Fe,Ba,Zr,Zn,Hf 15种元素进行了测定,用经验系数法校正基体效应.方法简便,快速,分析结果的准确度*能满足上述物料分析的要求.还用纯化学试剂和标准样品按一定比例混合制备标准样品,弥补了色料和釉缺少标准或没有标样的困难.又对Zr和Hf元素分析线进行了选择,用ZrLα和HfLβ1作为分析线,而不采用ZrKα,不仅使制备的熔片达到ZrLα线的饱和厚度,使分析结果的准确度和重现性好,而且还消除了ZrKα的谱线对HfLβ1分析线的干扰


苏州英飞思科学仪器有限公司
  • 联系人:张经理
  • 地址:江苏省苏州工业园区唯新路69号一能科技园2幢407
  • 邮箱:sales@esi-xrf.com
  • 传真:
关注我们

欢迎您加我微信了解更多信息

扫一扫
联系我们
版权所有©2024苏州英飞思科学仪器有限公司All Rights Reserved    备案号:苏ICP备2021018034号-2    sitemap.xml    总流量:153361
管理登陆    技术支持:化工仪器网    
Baidu
map