X射线测厚仪EDX8000B---金属薄膜镀层厚度和成分分析
EDX8000B镀层测厚仪应用于金属电镀镀层分析领域
技术指标
多镀层分析,1~5层;
测试精度:0.001 μm;
元素分析范围从铝(Al)到铀(U);
测量时间:10~30秒;
SDD探测器,能量分辨率为125±5eV;
探测器Be窗0.5mil(12.7μm);
微焦X射线管50kV/1mA,铑靶;
8个准直器及多个滤光片自动切换;
高清CCD摄像头(500万像素),准确监控位置;
多变量非线性去卷积曲线拟合;
高性能FP无标样分析软件;
测厚仪,专业表面处理检测解决方案:EDX8000BX射线测厚仪,专用于检测各种异形件,特别是五金类模具、卫浴产品、线路板以及高精密电子元器件表面处理的成分和厚度分析。