EDXRF便携式矿石分析仪真空型矿石成分分析光谱仪‍

便携式矿石分析仪Compass-300真空型矿石成分分析光谱仪‍

X射线光谱现场分析技术是采用现场X射线光谱仪在采样现场对待测目标体中元素进行快速地定性和定量分析技术, 又称为现场X射线荧光矿石分析仪。 根据现场分析的应用场景与采样方法, X射线光谱现场分析可分为X射线光谱现场原位分析和X射线光谱现场取样分析。 现场原位分析是指将X射线光谱分析仪的探测窗直接置于岩(矿)石露头或土壤或其他待测物料的表面, 在现场原生条件下获取待测目标体中元素种类和元素含量的分析方法; 现场取样分析是指对待测目标体进行样品采集, 甚至于对样品进行初步的加工和处理, 在现场工作条件下应用X射线光谱仪获取待测目标体中元素种类和元素含量的分析方法。

矿石实验室分测试析的对象和任务要求分析测试方法具有检出限低、检测范围宽、较高的准确度和精密度。地球化学样品的成分分析方法有传统的化学分析法、电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES)、电感耦合等离子体质谱(ICP-MS)、原子吸收光谱(AAS)、X射线荧光光谱(XRF)法等。化学分析法虽然使用仪器简单，但对操作技术的要求高、操作比较繁琐，使用大量的酸碱等化学试剂，分析流程较长，很难满足日常生产的需求。同样ICP-AES、ICP-MS、原子吸收光谱法在样品前处理过程中也常用大量化学试剂，造成环境污染。基于X射线荧光光谱法的矿石成分分析仪Compass300具有样品前处理简单、分析周期短、重现性好、可同时测定多元素、测试成本低等优点。

Compass 300能量色散X射线荧光(EDXRF)基于台式机的设计平台，其分析性能更接近于功率更高的落地式光谱仪，比一般便携式设备测试效果更稳定，更出众。配备了*SDD检测器， 同时实现了高分辨率，高计数率CPS和高灵敏度，从而达到实验室级别的测试效果。

•Compass 300配备的SDD检测器优势

>高分辨率：通常优于130ev，降低相邻元素干扰，并提高轻元素检测效果

>高计数率：150,000 cps (high count per second)

得到相同的强度，只要普通Si Pin检测器的0.2~0.05倍的时间，即Si Pin在设定分析时间为100秒的話，对SDD而言，得到相同的强度，只需5~20秒

>高灵敏度：灵敏度提高6-10倍。低背景值，提高元素检测下限

•便携，坚固，紧凑的设计，轻松实现现场高精度样品无损检测

•可分析各种样品形态：包括矿体、矿块、矿渣、矿粉、粗矿、精矿、尾矿、土壤、泥土、泥浆、灰尘、粉尘、过滤物、薄膜、废水、废油、液体样品等

•只需制备少量样品便可进行无损检测

•一键测试，一键打印报告

•可选配大容量电池，无需外部供电情况下可实现长时间工作

应用领域

>分析矿种

涵盖从Mg至U之间的金属、非金属、贵重金属和稀有金属矿等

>勘查

多元素现场快速分析，可广泛应用于普查、详查的各个过程，追踪矿化异常，扩展勘查范围。可大大减少送回实验室样品的数量，从而节约运输和分析费用

>岩芯检测

快速分析岩芯和和其他钻探样品，建立矿山三维图，分析储量，可大大提高钻探现场及时决策效率

>开采过程控制

矿体边界圈定，矿脉走向判定，对开采过程进行精确管理和控制，对矿石品位进行随时检测

>品位控制

对精矿、矿渣、矿尾等矿物品位进行精确快速分析，为矿物贸易、加工以及再利用提供价值判断依据

>环境分析

快速对矿石周围环境、尾矿、粉尘、土壤污染等进行分析与检测，评估矿石环境修复效果

>石油化工：燃料，润滑油，添加剂中的硫元素分析，磨损金属分析

>刑侦及公安：证据分析，材料匹配，爆炸物等

>食品，化妆品和药品：添加剂控制，原材料，有害金属，包装材料等

技术参数