X射线荧光光谱法分析高纯镁砂

更新时间：2022-09-13 点击次数：625

以淀粉做粘结剂,采用粉末压片,硼酸镶边垫底的制样方法,用能量色散X射线荧光光谱仪测定高纯镁砂中的SiO2、Al2O3、CaO、Fe2O3,MgO采用差减法计算,本法分析速度快,测量精密度好,测量结果与湿法化学和荧光熔片法分析结果相符

EDX9000B-x荧光光谱矿产分析仪.jpg

ESI英飞思EDX9000B光谱仪主要应用于在采矿过程的所有阶段进行材料元素成分分析。从勘探样品到矿物精矿，从选矿到尾矿，EDX9000B都在苛刻的采矿环境中均具有出色的灵活性，分析性能和稳定性。

EDX9000B专注于对地质材料的主量，微量和痕量元素进行定性和定量分析，其中包括：

•铁矿• 铜矿• 铝土矿•贵金属矿产•稀土矿•原料•磷酸盐•煤炭•铅锌矿•锰矿•镍矿•石灰石•粘土•石膏•玻璃•土壤•水泥•耐火材料及其他等

EDX9000B操作简单，分析性能出色，同时还可拓展到以下应用

>塑胶及有机物：塑料材料PE，PVC，添加剂等元素分析

>石油化工：燃料，润滑油监测，添加剂，磨损金属等中的硫元素分析

>环境：废水，空气污染，土壤和地面，排放控制等

>涂层厚度和薄膜：分析多层涂层，钢涂层，杂质等

>刑侦及公安：证据分析，材料匹配，爆炸物等

>食品，化妆品和药品：添加剂控制，原材料，有害金属，包装材料等

产品特点

作为一款专业为矿产元素分析而设计和生产的光谱仪，EDX-9000B兼顾了耐用性，易于操作和高性价比。其显著优势主要有：

•无需或者很少的样品制备，全程无损分析，一到三分钟即可出结果

•强大的基于Windows的FP（基本参数算法）软件降低了基体效应的影响

•50 kV 光管管和电制冷的SDD硅漂移检测器不仅具有出色的短期重复性和长期重现性，而且具有出色的元素峰分辨率

•能同时进行元素和氧化物成分分析

•多重仪器硬件保护系统，并可通过软件进行全程实时监控, 让仪器工作更稳定、更安全

•特别设计的光路和真空系统大大提高了轻元素(Na, Mg, Al, Si, P）的测试灵敏度和准确性，同时在测试Cd,Pb,Cr,Hg,Br,Cl等其他元素的灵敏度和稳定性都有了明显的提高

•友好的用户界面，可定制的分析报告，可一键打印测试报告，包括分析结果，样品信息，光谱信息和样品图像

•八种光路准直系统，根据不同样品大小自动切换，亦可测试样品不同位置再求平均值，降低样品不均匀性造成的误差

•高清内置摄像头，清晰地显示仪器所检测的样品部位

矿产元素检测专家EDX9000B

功能强大而界面友好的测试软件

界面清晰易用。选择方法并输入样品识别信息后即可开始测量。

软件内核-基本参数法（FP）可轻松分析未知样品。

EDX9000B已在工厂预安装了软件并进行了数据标定，客户运行软件即可立刻开始测试。无需每天重复标定。强大的软件功能还提供了

>一键初始化仪器，基体自动匹配

>自动定性，半定量和定量分析，不同样品测试谱图可实时对比

>光谱处理和校正，去除双倍峰和逃逸峰干扰，降低元素吸收增强效应影响

>光谱背景扣除，有效提高微量元素检测精度

>可实时刷新测量结果

>简单的流程栏向导可帮助用户创建新的自定义标定曲线

>可定制化测试报告，一键打印

磁铁矿样品10次测试稳定性报告

测量次数 /元素	Fe(%)	SiO2(%)	TiO2(%)	MnO(%)	Zn(%)	S(%)	P(%)	Pb(%)	K2O(%)
1_1	65.4014	6.6936	0.1123	0.0489	0.0090	0.8309	0.0118	0.0076	0.0684
1_2	65.4336	6.6575	0.1038	0.0465	0.0095	0.9092	0.0121	0.0075	0.0667
1_3	65.3603	6.7127	0.1132	0.0495	0.0093	0.8903	0.0119	0.0071	0.0677
1_4	65.3935	6.7233	0.1278	0.0483	0.0097	0.8303	0.0117	0.0068	0.0684
1_5	65.3812	6.7145	0.1058	0.0493	0.0097	0.8303	0.0117	0.0066	0.0684
1_6	65.3905	6.7421	0.1021	0.0503	0.0097	0.8303	0.0117	0.0065	0.0684
1_7	65.3603	6.7041	0.1075	0.0495	0.0093	0.8903	0.0119	0.0071	0.0677
1_8	65.4161	6.7280	0.1086	0.0461	0.0093	0.8938	0.0115	0.0074	0.0668
1_9	65.4320	6.7036	0.1182	0.0512	0.0096	0.9005	0.0120	0.0079	0.0669
1_10	65.4546	6.7707	0.1072	0.0502	0.0097	0.8868	0.0121	0.0067	0.0677
平均值Average	65.4024	6.7150	0.1107	0.0490	0.0095	0.8693	0.0118	0.0071	0.0677
标准偏差SD	0.0316	0.0300	0.0077	0.0016	0.0002	0.0340	0.0002	0.0005	0.0007
相对标准偏差RSD	0.0483%	0.4466%	6.9348%	3.3142%	2.5743%	3.9090%	1.6512%	6.6142%	1.0337%
测量次数 /元素	Na2O (%)	MgO (%)	Al2O3 (%)	As (%)	Cr (%)	Ni (%)	Cu (%)	Sn (%)	CaO (%)
1_1	0.0203	0.7523	0.5222	0.0065	0.1636	0.0760	0.0476	0.0131	0.6359
1_2	0.0232	0.8134	0.5230	0.0061	0.1584	0.0787	0.0488	0.0114	0.6336
1_3	0.0213	0.8059	0.5407	0.0071	0.1667	0.0796	0.0494	0.0144	0.6345
1_4	0.0216	0.7635	0.5234	0.0072	0.1640	0.0761	0.0485	0.0131	0.6267
1_5	0.0223	0.7815	0.5334	0.0072	0.1640	0.0751	0.0485	0.0131	0.6267
1_6	0.0222	0.7311	0.5512	0.0072	0.1640	0.0741	0.0485	0.0131	0.6267
1_7	0.0212	0.7559	0.5407	0.0071	0.1667	0.0756	0.0494	0.0144	0.6345
1_8	0.0249	0.7737	0.5233	0.0068	0.1576	0.0760	0.0471	0.0131	0.6324
1_9	0.0204	0.7712	0.5123	0.0064	0.1659	0.0750	0.0475	0.0140	0.6241
1_10	0.0236	0.8017	0.5435	0.0071	0.1663	0.0730	0.0489	0.0130	0.6414
平均值Average	0.0221	0.7750	0.5314	0.0069	0.1637	0.0759	0.0484	0.0133	0.6317
标准偏差SD	0.0015	0.0261	0.0123	0.0004	0.0033	0.0020	0.0008	0.0009	0.0054
相对标准偏差RSD	6.6056%	3.3702%	2.3177%	5.8244%	1.9863%	2.5892%	1.6256%	6.5508%	0.8578%

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