干货分享--压片法相对粉末样品直接测试用于XRF荧光光谱仪的优势？

压片法相对于粉末样品直接测试用于XRF荧光光谱仪有什么优势？

X射线荧光光谱法（XRF）对样品材料的制备高度敏感。压片的水泥样品显示出较高的信噪比，与松散粉末形式相比，这可以检测最轻的元素。

当定量元素组成时，在预期值和散粉样品之间观察到明显的差异。当使用同一批水泥来制备压制颗粒时，这些差异会消失。

XRF光谱分析信号由两个部分组成：

在特征波长处的X射线发射峰与所分析样品的原子内发生的电子跃迁相对应

由松散结合的外部电子散射的X射线的连续背景，在该电子上叠加了发射峰

这些特征性X射线通常是由于样品表面以下1-1000 µm深度处的表面原子所致。 确切的深度取决于其原子量。 如果元素较轻，则较重元素更难检测。

背景散射和发射峰的强度均受粒度，矿物成分和颗粒密度的影响。 但是，将样品研磨至非常细的颗粒大小，然后压缩成光滑平整的XRF颗粒，可以减少背景散射并改善对排放物的检测。

颗粒和散粉中重元素和轻元素的比较

使用疏松粉末获得的光谱显示出与压片的颗粒明显不同。 颗粒显示出更高的信噪比，这使得最轻的元素可以轻易地在背景之上被检测到。 由于不需要薄膜，因此可以在真空条件下进行测量，从而进一步改善了颗粒的性能。

对于准确定量至关重要的是，用户可以清楚地检测出样品中的所有元素。 在散粉样品中，较轻的Al，Mg和Na元素的低估会导致水泥中Fe和Ca的高估。 另一方面，样品沉淀物提供的定量与标准实验室实验确定的范围一致。