便携式X荧光光谱测金仪应用于贵金属元素分析检测的介绍

X荧光光谱仪测金仪原理

X射线荧光光谱法（XRF）测金仪被普遍认为是一种非常准确的方法，它通过用高能光子（例如X射线或γ射线）照射样品并观察由此产生的X射线荧光来测量材料的原子组成。

通常，X射线荧光光谱仪由激发辐射源（X射线管或放射性同位素），检测来自样品的受激辐射的辐射检测器以及光谱输出显示组成。

在X射线荧光光谱法中，该方法开始于将样品暴露于X射线或伽马射线源。当这些高能光子撞击样品时，它们倾向于将电子从构成样品的原子核周围的轨道中击出。发生这种情况时，来自原子外轨道或“壳"的电子将落入缺失电子的壳中。由于外层电子比内层电子更具能量电子，重新定位的电子具有多余的能量，这些能量被消耗为X射线荧光光子。这种荧光对于样品的成分。检测器收集该光谱并将其转换为与样品光谱中各种X射线能量成比例的电脉冲。由于每个元素都有不同且可识别的X射线特征，因此我们可以查看发射光谱的特定部分，并通过计数该扇区中的脉冲来确定样品中所涉及元素的存在和浓度。

能量色散X射线荧光（EDXRF）依靠检测器和检测器电子设备解决X射线暴露在样品上时产生的光谱峰。 XRF检测器可以检测到由曝光引起的不同能级，然后由功能强大的分析软件对其进行处理。因此得出最终黄金及其他金属成分含量结果。

XRF优势和特点

准确测定金和所有贵金属（如银，铂，钯，铑，铱和钌）的含量同时测量所有元素，而无需根据要分析的材料切换校准

非破坏性贵金属分析可保护贵重珠宝，古董和收藏品

精确确定其他微量合金元素（包括铅）的存在和浓度

消除与酸测试方法相关的危害和不准确性

利用我们的集成摄像头和小点功能，利用电子测试来捕获图像并专注于小区域。

测试性能